English

NIR plāns Apo 50X/0,67 – bezgalīgi koriģēts metalurģiskais objektīvs attēlveidošanai caur silīciju un šķiedru lāzera procesu uzraudzībai

NIR plāns Apo 50X/0,67 – bezgalīgi koriģēts metalurģiskais objektīvs attēlveidošanai caur silīciju un šķiedru lāzera procesu uzraudzībai. Piedāvātais attēls.
  • NIR plāns Apo 50X/0,67 – bezgalīgi koriģēts metalurģiskais objektīvs attēlveidošanai caur silīciju un šķiedru lāzera procesu uzraudzībai
  • NIR plāns Apo 50X/0,67 – bezgalīgi koriģēts metalurģiskais objektīvs attēlveidošanai caur silīciju un šķiedru lāzera procesu uzraudzībai

NIR plāns Apo 50X/0,67 – bezgalīgi koriģēts metalurģiskais objektīvs attēlveidošanai caur silīciju un šķiedru lāzera procesu uzraudzībai

NIR Plan Apo 50X/0.67 ir augstākās kvalitātes bezgalības koriģēts plāna apohromatisks mikroskopa objektīvs, kas īpaši optimizēts tuvā infrasarkanā starojuma (NIR) lietojumiem. Ar skaitlisko apertūru (NA) 0,67 un darba attālumu (WD) 10 mm tas nodrošina izcilu izšķirtspēju (0,5 µm) un lielisku NIR pārraidi redzamajā diapazonā no 380 līdz 700 nm, kā arī kritiskajā 1064 nm viļņa garumā, padarot to ideāli piemērotu silīcija vafeļu aizmugures pārbaudei, caur silīciju vērstai (TSV) metroloģijai un šķiedru lāzera apstrādes reāllaika uzraudzībai.

Galvenās specifikācijas:

  • Palielinājums: 50x
  • Skaitliskā apertūra (NA): 0,67
  • Darba attālums (WD): 10 mm
  • Fokusa attālums: 4 mm
  • Izšķirtspēja: 0,5 µm
  • Lauka dziļums (±DF): 0,75 µm
  • Maksimālais redzes lauks: 0,5 mm
  • Svars: 430 g
  • Optiskais dizains: bezgalības korekcija, plāna apohromats (APO)
  • Darba viļņa garums: 380–700 nm un 1064 nm
  • Iegremdēšanas vide: gaiss

Produkta informācija

Produkta tagi

Tipiski pielietojumi:
Pusvadītāju pārbaude– Aizmugurējās plātnes pārbaude, TSV (caur silīciju veidotas atveres) mērīšana, defektu pārskatīšana pēc lāzergriešanas
Neveiksmju analīze– Nesagraujoša attēlveidošana caur silīcija substrātiem, lai pārbaudītu apraktas struktūras
Lāzera apstrāde– 1064 nm šķiedru lāzera ablācijas, urbšanas vai metināšanas novērošana reāllaikā materiālzinātnē un ražošanā
Metalurģija un materiālzinātne– Lāzera termiski ietekmēto zonu, pārstrādāto slāņu un mikrostruktūru augstas izšķirtspējas pārbaude
NIR fluorescences mikroskopija– Bioloģiskiem vai materiālu paraugiem, kuriem nepieciešama tuvā infrasarkanā starojuma ierosināšana
Mikroskopa objektīvs


  • Iepriekšējais:
  • Tālāk:
    • Uzrakstiet savu ziņojumu šeit un nosūtiet to mums

    PRODUKTU KATEGORIJAS

    Wavelength jau 20 gadus koncentrējas uz augstas precizitātes optisko izstrādājumu nodrošināšanu.

    Nospiediet taustiņu Enter, lai meklētu, vai taustiņu ESC, lai aizvērtu